一、上海高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格簡(jiǎn)介：

  冷熱沖擊試驗(yàn)箱是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備，用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下忍受的程度，得以在最短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

二、上海高低溫沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格技術(shù)參數(shù)：

三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱場(chǎng)地安裝條件：

地面平整，通風(fēng)良好，不含易燃、易爆、腐蝕性氣體和粉塵；附近沒(méi)有強(qiáng)電磁輻射源；

場(chǎng)地地面承重能力：不小于600kg/m2；

設(shè)備周圍留有適當(dāng)?shù)木S護(hù)空間。

A：不小于400mm

B：不小于400mm

C：不小于1000mm

四、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足試驗(yàn)方法：

1. GJB150.5A-2009溫度沖擊試驗(yàn)

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度沖擊試驗(yàn)

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分:試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

4. GJB360B-2009溫度沖擊試驗(yàn)

5. GB/T 2423.1-2008/IEC6008-2-1-2007電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

6.GB/T 2423.2-2008/IEC60068-2-2：2007 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫

7.GB/T 10589-2008 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

8.GB/T 11158-2008 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件